熱膨脹系數(shù)（Coefficient of Thermal Expansion – CTE） 一般是指線膨脹系數(shù)，其定義為溫度升高1℃時(shí)單位長(zhǎng)度上所增加的長(zhǎng)度。熱膨脹系數(shù)既可以定義為一個(gè)準(zhǔn)確溫度點(diǎn)下的形式，也可以定義為一個(gè)溫度區(qū)間的形式。
上海依陽(yáng)實(shí)業(yè)可以采用各種測(cè)試技術(shù)對(duì)材料、部件和構(gòu)件的熱膨脹系數(shù)進(jìn)行測(cè)量，這些技術(shù)手段主要包括石英頂桿法、光學(xué)投影法和激光干涉法，測(cè)試溫度范圍為-269℃～2500℃。
測(cè)量裝置概述
1. 石英膨脹計(jì)法測(cè)量裝置 —— 此裝置用于測(cè)量剛性固體和液體材料，依據(jù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是有GJB 332A、ASTM E228和ASTM D696。
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測(cè)試溫度測(cè)試范圍 |
-196℃~1000℃ |
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變形測(cè)量精度 |
±0.5微米 |
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試樣尺寸 |
圓棒：Φ (5~10）mm×(50~70）mm |
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測(cè)量重復(fù)性 |
±2% |
相關(guān)鏈接：（1）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)文本。
2. 光學(xué)投影法測(cè)量裝置 ——此裝置采用非接觸光學(xué)測(cè)量方法，用于測(cè)量剛性固體、彈性體和液體材料，可以在高溫和超高溫下進(jìn)行測(cè)試，并可以直接測(cè)試材料的熔點(diǎn)。測(cè) 試方法依據(jù)GJB 1200.1。
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測(cè)試溫度測(cè)試范圍 |
-196℃~2000℃ |
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變形測(cè)量精度 |
±0.5微米 |
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試樣尺寸 |
圓棒：Φ (5~10）mm×(5~30）mm |
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測(cè)量重復(fù)性 |
±2% |
相關(guān)鏈接：（1）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)文本；（2）測(cè)試儀器。
3. 激光干涉法測(cè)量裝置 —— 此裝置采用雙頻激光干涉方法，對(duì)剛性固體材料在低溫至高溫范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試方法依據(jù)ASTM E289和GB 10562。
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測(cè)試溫度測(cè)試范圍 |
-269℃~1400℃ |
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位移測(cè)量精度 |
±10納米 |
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試樣尺寸 |
條棒：大于23×7×3mm塊狀 |
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測(cè)量重復(fù)性 |
±3% |
相關(guān)鏈接：（1）測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)文本；（2）測(cè)試儀器。